제품소개
Product유해물질 분석기란?
측정 시료에 X-선을 조사하면 시료를 구성하고 있는 원소는 각 원소 별로 고유한 형광 엑스선을 발생하게 되는데 이를 측정하여 분석함으로써 측정시료의 구성원소를 정량/정성 분석을 수행하는 측정장치입니다.
Energy Dispersive X-ray Analysis 방식인 iEDX-100A는 전자제품, 귀금속, 액세서리, 완구류 등 유해물질 규제인 RoHS, WEEE, ELV 등 다양한 Applications에 사용되고 있습니다.
- - 비파괴 검사
- - 시료 전처리 최소화(균질물질)
- - 광범위한 분석범위(mg / kg~%)
- - 금속, 플라스틱 자동모드제공
- - 동시에 다원소 분석
- - 질소 냉각 없이 고감도 측정
- - 초고감도, 초정밀도 분석기기
| iEDX-100A | Option | ||
|---|---|---|---|
| 측정방법 | Energy Dispersive X-ray Analysis | Energy Dispersive X-ray Analysis | - |
| 시료형태 | Solid/Liquid/Powder | Solid/Liquid/Powder | - |
| 챔버 | 시료형태 | Air | Vacuum |
| X-ray Tube | 50kVp,50W,Rh Target | 50kVp, 50W, Rh Target | - |
| Filter | 5Filter Auto Change | 5Filter Auto Change | Auto sample change |
| Detection System | Si-Pin Diode (Peltier System) | Si-Pin Diode (Peltier System) | SDD(Silicon Drift Detector) |
| Energy Resolution | 149eV at Mn-Ka (5.9eV) | 149eV at Mn-Ka (5.9eV) | 125eV at Mn-Ka (5.9eV) |
| Detection Elelment | Na(11) ~ U(92) | Na(11) ~ U(92) | - |
| Measurement Area | 2-10mm, User Selectable | 2-10mm, User Selectable | - |
| Operating Software | Automatic Measurement (Korean/English) |
Automatic Measurement (Korean/English) |
- |
| Analyze Method | FP/Calibration Method | FP/Calibration Method | - |
| Sample Monitoring | CCD Camera | CCD Camera | - |
| Control System | Desk-Top/Note Book,USB Interface | - | - |